| Простой прибор
в мире сложного хайтека!
Тип прибора: SM/01 (опытный вариант)
Опытный вариант компьютеризованного мультиметра
SM/01 предназначен для точного диагностирования
полупроводниковых структур средствами DLTS, CPC, CV и IV методик.
Удобное ПО позволяет правильно подобрать способ измерений и режим
обработки данных. Блок электроники может использоваться вместе с
измерительной головкой (ИГ) другого прибора. Техническая и методическая
поддержка позволяют удовлетворить самым разным требованиям пользователя.
 Для
исследований :
- pn-переходов
- барьеров Шоттки
- МОП-транзисторов
- МОП-конденсаторов
- гетеропереходов
Для технологического контроля:
- анализ радиационных и имплантационных эффектов
- разнообразные технологии измерений
- параллельные измерения
- высокое разрешение
- широкий диапазон температур
- сверхчувствительность
- низкое отношение сигнал/шум
- подключение к компьютеру USB Plug&Play
- простое и удобное ПО
- визуальный контроль on-line
- сохранение и экспорт данных измерений
|
