|
Предназначен для прецизионных измерений
полупроводниковых структур с применением DLTS, CPC, CV и IV методов.
Удобноеее программное обеспечение позволяет выбирать и адаптировать
методы измерения и режимы обработки данных. Электронный блок может
использоваться с измерительными головками других подобных устройств.
Техническая и методическая поддержка разработчиков и адаптация к
требованиям потребителя. Опытный экземпляр.
|